चाप दोष

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आर्क फॉल्ट (चाप फॉल्ट) दो या दो से अधिक सुचालक (कंडक्टरों) के बीच विद्युत का उच्च-शक्ति निर्वहन है। यह डिस्चार्ज गर्मी उत्पन्न करता है, जो तार के इन्सुलेशन (विसंवाहन) को तोड़ सकता है और विद्युत आग को ट्रिगर कर सकता है। आर्क फॉल्ट की धारा कुछ एम्पीयर से लेकर हजारों एम्पीयर तक हो सकती है, और शक्ति और अवधि में अत्यधिक परिवर्तनशील होती है।

आर्क फॉल्ट के कुछ सामान्य कारण ढीले तार कनेक्शन, अत्यधिक गर्म तार, या फर्नीचर द्वारा दबाए गए तार हैं।

स्थान और पहचान

दो प्रकार की वायरिंग सुरक्षा मानक थर्मल ब्रेकर और आर्क फॉल्ट परिपथ ब्रेकर हैं। थर्मल ब्रेकरों को इतनी देर तक ओवरलोड स्थिति की आवश्यकता होती है कि ब्रेकर में एक हीटिंग तत्व ब्रेकर को बंद कर देता है। इसके विपरीत, आर्क फ़ॉल्ट परिपथ ब्रेकर अधिक तेज़ी से करंट ड्रॉ में वृद्धि का पता लगाने के लिए चुंबकीय या अन्य साधनों का उपयोग करते हैं। ऐसी सुरक्षा के बिना, फॉल्टपूर्ण तारों में आर्क फॉल्टों का दृश्य रूप से पता लगाना बहुत कठिन है, क्योंकि आर्क फॉल्ट बहुत छोटे क्षेत्र में होता है। आर्क फॉल्ट परिपथ ब्रेकरों के साथ एक समस्या यह है कि उनमें सामान्य परिपथ व्यवहार के कारण आर्क फॉल्ट दिखाई देने के कारण अवास्तविक सकारात्मकता उत्पन्न होने की अधिक संभावना होती है। उदाहरण के लिए, किसी विमान के बाहरी भाग पर बिजली गिरना उनके वोल्टेज और करंट प्रोफाइल में आर्क फॉल्ट की नकल करता है। अनुसंधान इस तरह की अवास्तविक सकारात्मकताओं को काफी हद तक समाप्त करने में सक्षम रहा है, हालांकि, पुनर्निर्माण की आवश्यकता को तुरंत पहचानने और पता लगाने की क्षमता प्रदान करता है जिसे करने की आवश्यकता है[1]

साधारण वायरिंग प्रणाली में विजुअल इंस्पेक्शन से फॉल्ट लोकेशन का पता चल सकता है, लेकिन कॉम्प्लेक्स वायरिंग प्रणाली में, उदाहरण के लिए एयरक्राफ्ट वायरिंग, समय-क्षेत्र परावर्तक जैसे डिवाइस लाइव वायर पर भी सहायक होते हैं।[2]







यह भी देखें

संदर्भ

  1. Stephenson, James, Ph.D. "Eliminating False Positives in the Detection and Location of sub 3ms Faults on AC/DC Lines[permanent dead link]" presented at the 2011 Aircraft Airworthiness & Sustainment Conference on April 19, 2011.
  2. Smith,Paul, Furse, Cynthia and Gunther, Jacob. "Analysis of Spread Spectrum Time Domain Reflectometry for Wire Fault Location Archived 2010-12-31 at the Wayback Machine" in IEEE Sensors Journal (Dec 2005).