ईईपीरोम: Difference between revisions
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{{short description|Computer memory used for small quantities of data}} | {{short description|Computer memory used for small quantities of data}} | ||
[[File:AT24C02 EEPROM 1480355 6 7 HDR Enhancer.jpg|thumbnail|[[STMicroelectronics]] [http://www.st.com/resource/en/dataSheet/m24c02-f.pdf M24C02] I²C सीरियल प्रकार EEPROM]] | [[File:AT24C02 EEPROM 1480355 6 7 HDR Enhancer.jpg|thumbnail|[[STMicroelectronics]] [http://www.st.com/resource/en/dataSheet/m24c02-f.pdf M24C02] I²C सीरियल प्रकार EEPROM]] | ||
[[File:ATMEL048 93C46A SC.jpg|thumbnail|[[एटमेल]] [http://ww1.microchip.com/downloads/en/devicedoc/doc0539.pdf AT93C46A] [[डाई (एकीकृत सर्किट)]]]] | [[File:ATMEL048 93C46A SC.jpg|thumbnail|[[एटमेल]] [http://ww1.microchip.com/downloads/en/devicedoc/doc0539.pdf AT93C46A] [[डाई (एकीकृत सर्किट)|डाई (एकीकृत परिपथ)]]]] | ||
[[File:Atmel-avr-atusb162-HD.jpg|thumbnail| [http://ww1.microchip.com/downloads/en/DeviceDoc/7707S.pdf AT90USB162] [[ microcontroller |microcontroller]] 512 बाइट EEPROM को एकीकृत करता है]] | [[File:Atmel-avr-atusb162-HD.jpg|thumbnail| [http://ww1.microchip.com/downloads/en/DeviceDoc/7707S.pdf AT90USB162] [[ microcontroller |microcontroller]] 512 बाइट EEPROM को एकीकृत करता है]] | ||
[[File:Floating gate transistor-en.svg|thumb|UV-EPROM संरचना का क्रॉस सेक्शन।<br />ऊपरी इन्सुलेटर: {{abbr|ONO|Oxide–nitride–oxide}}<br />लोअर इंसुलेटर: [[क्वांटम टनलिंग]] [[सिलिकॉन डाइऑक्साइड]]]]EEPROM (जिसे E भी कहा जाता है)<sup>2</sup>PROM) का मतलब विद्युत रूप से मिटाने योग्य प्रोग्रामयोग्य रीड-ओनली मेमोरी है और यह कंप्यूटर में उपयोग की जाने वाली प्रकार की गैर-वाष्पशील मेमोरी है, जो आमतौर पर [[स्मार्ट कार्ड]] और [[रिमोट कीलेस सिस्टम]] जैसे माइक्रोकंट्रोलर में या स्टोर करने के लिए | [[File:Floating gate transistor-en.svg|thumb|UV-EPROM संरचना का क्रॉस सेक्शन।<br />ऊपरी इन्सुलेटर: {{abbr|ONO|Oxide–nitride–oxide}}<br />लोअर इंसुलेटर: [[क्वांटम टनलिंग]] [[सिलिकॉन डाइऑक्साइड]]]]EEPROM (जिसे E भी कहा जाता है)<sup>2</sup>PROM) का मतलब विद्युत रूप से मिटाने योग्य प्रोग्रामयोग्य रीड-ओनली मेमोरी है और यह कंप्यूटर में उपयोग की जाने वाली प्रकार की गैर-वाष्पशील मेमोरी है, जो आमतौर पर [[स्मार्ट कार्ड]] और [[रिमोट कीलेस सिस्टम|रिमोट कीलेस]] प्रणाली जैसे माइक्रोकंट्रोलर में या स्टोर करने के लिए भिन्न चिप डिवाइस के रूप में एकीकृत होती है। व्यक्तिगत बाइट्स को मिटाने और पुन: प्रोग्राम करने की अनुमति देकर अपेक्षाकृत कम मात्रा में डेटा। | ||
EEPROMs को [[फ्लोटिंग-गेट ट्रांजिस्टर]] की सारणी के रूप में व्यवस्थित किया जाता है। EEPROM को विशेष प्रोग्रामिंग सिग्नल लागू करके इन- | EEPROMs को [[फ्लोटिंग-गेट ट्रांजिस्टर]] की सारणी के रूप में व्यवस्थित किया जाता है। EEPROM को विशेष प्रोग्रामिंग सिग्नल लागू करके इन-परिपथ प्रोग्राम और मिटाया जा सकता है। मूल रूप से, EEPROMs एकल-बाइट संचालन तक सीमित थे, जिससे वह धीमे हो गए, लेकिन आधुनिक EEPROMs मल्टी-बाइट पृष्ठ संचालन की अनुमति देते हैं। EEPROM में मिटाने और पुन:प्रोग्रामिंग के लिए सीमित जीवन होता है, जो अब आधुनिक EEPROM में दस लाख ऑपरेशन तक पहुंच गया है। EEPROM में जिसे बार-बार पुन: प्रोग्राम किया जाता है, EEPROM का जीवन महत्वपूर्ण डिज़ाइन विचार है। | ||
फ़्लैश मेमोरी प्रकार की EEPROM है जिसे उच्च गति और उच्च घनत्व के लिए डिज़ाइन किया गया है, बड़े मिटाने वाले ब्लॉक (आमतौर पर 512 बाइट्स या बड़े) और सीमित संख्या में लिखने के चक्र (अक्सर 10,000) की कीमत पर। दोनों को विभाजित करने वाली कोई स्पष्ट सीमा नहीं है, लेकिन EEPROM शब्द का उपयोग आम तौर पर छोटे मिटाने वाले ब्लॉक (एक बाइट जितना छोटा) और लंबे जीवनकाल (आमतौर पर 1,000,000 चक्र) के साथ गैर-वाष्पशील मेमोरी का वर्णन करने के लिए किया जाता है। | फ़्लैश मेमोरी प्रकार की EEPROM है जिसे उच्च गति और उच्च घनत्व के लिए डिज़ाइन किया गया है, बड़े मिटाने वाले ब्लॉक (आमतौर पर 512 बाइट्स या बड़े) और सीमित संख्या में लिखने के चक्र (अक्सर 10,000) की कीमत पर। दोनों को विभाजित करने वाली कोई स्पष्ट सीमा नहीं है, लेकिन EEPROM शब्द का उपयोग आम तौर पर छोटे मिटाने वाले ब्लॉक (एक बाइट जितना छोटा) और लंबे जीवनकाल (आमतौर पर 1,000,000 चक्र) के साथ गैर-वाष्पशील मेमोरी का वर्णन करने के लिए किया जाता है। अनेक पिछले [[माइक्रोकंट्रोलर्स]] में दोनों ([[फर्मवेयर]] के लिए [[फ्लैश मेमोरी]] और मापदंडों के लिए छोटा ईईपीरोम) शामिल थे, हालांकि आधुनिक माइक्रोकंट्रोलर्स का रुझान फ्लैश का उपयोग करके ईईपीरोम का [[अनुकरण (कंप्यूटिंग)]] करना है। | ||
2020 तक, फ्लैश मेमोरी की लागत बाइट-प्रोग्रामेबल EEPROM से बहुत कम है और यह प्रमुख मेमोरी प्रकार है जहां किसी | 2020 तक, फ्लैश मेमोरी की लागत बाइट-प्रोग्रामेबल EEPROM से बहुत कम है और यह प्रमुख मेमोरी प्रकार है जहां किसी प्रणाली को महत्वपूर्ण मात्रा में गैर-वाष्पशील [[ ठोस अवस्था भंडारण |ठोस अवस्था भंडारण]] की आवश्यकता होती है। हालाँकि, EEPROMs का उपयोग अभी भी उन अनुप्रयोगों पर किया जाता है जिनके लिए केवल थोड़ी मात्रा में भंडारण की आवश्यकता होती है, जैसे कि सीरियल उपस्थिति का पता लगाना।<ref>{{cite web |url=https://www.micron.com/-/media/client/global/documents/products/technical-note/dram-modules/tn_04_42.pdf?rev=e5a1537ce3214de5b695f17c340fd023 |title=TN-04-42: Memory Module Serial Presence-Detect |publisher=Micron Technology |date=2002}}</ref><ref>{{cite web |url=https://whatis.techtarget.com/definition/serial-presence-detect-SPD#:~:text=When%20a%20computer%20is%20booted,%2C%20data%20width%2C%20speed%2C%20and |title=क्रमिक उपस्थिति का पता लगाना (एसपीडी)|website=TechTarget |date=July 2015}}</ref> | ||
==इतिहास== | ==इतिहास== | ||
1970 के दशक की शुरुआत में, विद्युतीय रूप से पुन: प्रोग्राम करने योग्य गैर-वाष्पशील मेमोरी के लिए कुछ अध्ययन, [[आविष्कार]] और विकास विभिन्न कंपनियों और संगठनों द्वारा किए गए थे।1971 में, सबसे प्रारंभिक शोध | 1970 के दशक की शुरुआत में, विद्युतीय रूप से पुन: प्रोग्राम करने योग्य गैर-वाष्पशील मेमोरी के लिए कुछ अध्ययन, [[आविष्कार]] और विकास विभिन्न कंपनियों और संगठनों द्वारा किए गए थे।1971 में, सबसे प्रारंभिक शोध सूची जापान में [[टोक्यो]] में [[सॉलिड-स्टेट इलेक्ट्रॉनिक्स]] पर तीसरे सम्मेलन में [[इलेक्ट्रोटेक्निकल प्रयोगशाला]] में यासुओ तारुई, युताका हयाशी और कियोको नागाई द्वारा प्रस्तुत की गई थी; जापानी राष्ट्रीय अनुसंधान संस्थान।<ref> | ||
{{cite journal|last1=Tarui|first1=Yasuo|last2=Hayashi|first2=Yutaka|last3=Nagai|first3=Kiyoko|title=Proposal of electrically reprogrammable non-volatile semiconductor memory|journal=Proceedings of the 3rd Conference on Solid State Devices, Tokyo|date=1971-09-01|pages=155{{endash}}162|publisher=The Japan Society of Applied Physics}} | {{cite journal|last1=Tarui|first1=Yasuo|last2=Hayashi|first2=Yutaka|last3=Nagai|first3=Kiyoko|title=Proposal of electrically reprogrammable non-volatile semiconductor memory|journal=Proceedings of the 3rd Conference on Solid State Devices, Tokyo|date=1971-09-01|pages=155{{endash}}162|publisher=The Japan Society of Applied Physics}} | ||
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{{cite journal|last1=Tarui|first1=Yasuo|last2=Nagai|first2=Kiyoko|last3=Hayashi|first3=Yutaka|title=Nonvolatile Semiconductor Memory|journal=Oyo Buturi|date=1974-07-19|volume=43|issue=10|pages=990{{endash}}1002|doi=10.11470/oubutsu1932.43.990|url=https://www.jstage.jst.go.jp/article/oubutsu1932/43/10/43_10_990/_pdf/-char/en.pdf|issn=2188-2290|url-status=live|archive-url=https://web.archive.org/web/20180312205219/https://www.jstage.jst.go.jp/article/oubutsu1932/43/10/43_10_990/_pdf/-char/en.pdf|archive-date=2018-03-12}} | {{cite journal|last1=Tarui|first1=Yasuo|last2=Nagai|first2=Kiyoko|last3=Hayashi|first3=Yutaka|title=Nonvolatile Semiconductor Memory|journal=Oyo Buturi|date=1974-07-19|volume=43|issue=10|pages=990{{endash}}1002|doi=10.11470/oubutsu1932.43.990|url=https://www.jstage.jst.go.jp/article/oubutsu1932/43/10/43_10_990/_pdf/-char/en.pdf|issn=2188-2290|url-status=live|archive-url=https://web.archive.org/web/20180312205219/https://www.jstage.jst.go.jp/article/oubutsu1932/43/10/43_10_990/_pdf/-char/en.pdf|archive-date=2018-03-12}} | ||
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इन दस्तावेज़ों को | इन दस्तावेज़ों को पश्चात् के दस्तावेज़ों और पेटेंटों द्वारा बार-बार उद्धृत किया गया है।<ref name="Iizuka-1976"> | ||
{{cite journal|last1=Iizuka|first1=H.|last2=Masuoka|first2=F.|last3=Sato|first3=Tai|last4=Ishikawa|first4=M.|title=Electrically alterable avalanche-injection-type MOS READ-ONLY memory with stacked-gate structure|journal=IEEE Transactions on Electron Devices|date=1976|volume=23|issue=4|pages=379–387|doi=10.1109/T-ED.1976.18415|issn=0018-9383|bibcode=1976ITED...23..379I|s2cid=30491074}} | {{cite journal|last1=Iizuka|first1=H.|last2=Masuoka|first2=F.|last3=Sato|first3=Tai|last4=Ishikawa|first4=M.|title=Electrically alterable avalanche-injection-type MOS READ-ONLY memory with stacked-gate structure|journal=IEEE Transactions on Electron Devices|date=1976|volume=23|issue=4|pages=379–387|doi=10.1109/T-ED.1976.18415|issn=0018-9383|bibcode=1976ITED...23..379I|s2cid=30491074}} | ||
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अधिकांश प्रमुख अर्धचालक निर्माता, जैसे | अधिकांश प्रमुख अर्धचालक निर्माता, जैसे | ||
[[तोशीबा]],<ref name="Masuoka-1972" /><ref name="Iizuka-1976" />[[सान्यो]] ( | [[तोशीबा]],<ref name="Masuoka-1972" /><ref name="Iizuka-1976" />[[सान्यो]] (पश्चात् में, [[सेमीकंडक्टर पर]]),<ref> | ||
{{cite journal|last1=Rai|first1=Yasuki|last2=Sasami|first2=Terutoshi|last3=Hasegawa|first3=Yuzuru|last4=Okazoe|first4=Masaru|title=Electrically reprogrammable nonvolatile floating gate semi-conductor memory device and method of operation|date=1973-05-18|url=https://patents.google.com/patent/US4004159A/en|url-status=live|archive-url=https://web.archive.org/web/20180503153251/https://patents.google.com/patent/US4004159A/en|archive-date=2018-05-03}} | {{cite journal|last1=Rai|first1=Yasuki|last2=Sasami|first2=Terutoshi|last3=Hasegawa|first3=Yuzuru|last4=Okazoe|first4=Masaru|title=Electrically reprogrammable nonvolatile floating gate semi-conductor memory device and method of operation|date=1973-05-18|url=https://patents.google.com/patent/US4004159A/en|url-status=live|archive-url=https://web.archive.org/web/20180503153251/https://patents.google.com/patent/US4004159A/en|archive-date=2018-05-03}} | ||
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[[एनईसी]] ( | [[एनईसी]] (पश्चात् में, रेनेसा इलेक्ट्रॉनिक्स),<ref name="NEC-1974"> | ||
{{cite journal|last1=Ohya|first1=Shuichi|last2=Kikuchi|first2=Masanori|title=Non-volatile semiconductor memory device|date=1974-12-27|url=https://patents.google.com/patent/US4016588A/en}}</ref> | {{cite journal|last1=Ohya|first1=Shuichi|last2=Kikuchi|first2=Masanori|title=Non-volatile semiconductor memory device|date=1974-12-27|url=https://patents.google.com/patent/US4016588A/en}}</ref> | ||
[[ PHILIPS | PHILIPS]] ( | [[ PHILIPS | PHILIPS]] (पश्चात् में, [[एनएक्सपी सेमीकंडक्टर]]),<ref> | ||
{{cite journal|last1=Verwey|first1=J. F.|last2=Kramer|first2=R. P.|title=Atmos—An electrically reprogrammable read-only memory device|journal=IEEE Transactions on Electron Devices|date=1974|volume=21|issue=10|pages=631–636|doi=10.1109/T-ED.1974.17981|issn=0018-9383|bibcode=1974ITED...21..631V}} | {{cite journal|last1=Verwey|first1=J. F.|last2=Kramer|first2=R. P.|title=Atmos—An electrically reprogrammable read-only memory device|journal=IEEE Transactions on Electron Devices|date=1974|volume=21|issue=10|pages=631–636|doi=10.1109/T-ED.1974.17981|issn=0018-9383|bibcode=1974ITED...21..631V}} | ||
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[[सीमेंस]] ( | [[सीमेंस]] (पश्चात् में, [[इन्फिनियॉन टेक्नोलॉजीज]]),<ref> | ||
{{cite journal|last1=B.|first1=Roessler|last2=R. G.|first2=Mueller|title=Erasable and electrically reprogrammable read-only memory using the N-channel SIMOS one-transistor cell|journal=Siemens Forschungs und Entwicklungsberichte|date=1975|volume=4|issue=6|pages=345–351|bibcode=1975SiFoE...4..345R}} | {{cite journal|last1=B.|first1=Roessler|last2=R. G.|first2=Mueller|title=Erasable and electrically reprogrammable read-only memory using the N-channel SIMOS one-transistor cell|journal=Siemens Forschungs und Entwicklungsberichte|date=1975|volume=4|issue=6|pages=345–351|bibcode=1975SiFoE...4..345R}} | ||
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[[हनीवेल]] ( | [[हनीवेल]] (पश्चात् में, एटमेल),<ref> | ||
{{cite journal|last1=Jack|first1=S|last2=Huang|first2=T.|title=Semiconductor memory cell|date=8 September 1975|url=https://patents.google.com/patent/US4051464A/en}} | {{cite journal|last1=Jack|first1=S|last2=Huang|first2=T.|title=Semiconductor memory cell|date=8 September 1975|url=https://patents.google.com/patent/US4051464A/en}} | ||
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1975 में, NEC की सेमीकंडक्टर संचालन इकाई, | 1975 में, NEC की सेमीकंडक्टर संचालन इकाई, पश्चात् में NEC इलेक्ट्रॉनिक्स, वर्तमान में रेनेसा इलेक्ट्रॉनिक्स, ने जापान पेटेंट कार्यालय में [[ट्रेडमार्क]] नाम EEPROM® लागू किया।<ref> | ||
{{cite web|title=EEPROM|url=https://www.tmdn.org/tmview/get-detail?st13=JP501975000139811|website=TMview|url-status=live|archive-url=https://web.archive.org/web/20180310010029/https://www.tmdn.org/tmview/get-detail?st13=JP501975000139811|archive-date=2018-03-10}} | {{cite web|title=EEPROM|url=https://www.tmdn.org/tmview/get-detail?st13=JP501975000139811|website=TMview|url-status=live|archive-url=https://web.archive.org/web/20180310010029/https://www.tmdn.org/tmview/get-detail?st13=JP501975000139811|archive-date=2018-03-10}} | ||
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1978 में, यह ट्रेडमार्क अधिकार प्रदान किया गया और जापान में No.1,342,184 के रूप में पंजीकृत किया गया, और मार्च 2018 तक अभी भी जीवित है। | 1978 में, यह ट्रेडमार्क अधिकार प्रदान किया गया और जापान में No.1,342,184 के रूप में पंजीकृत किया गया, और मार्च 2018 तक अभी भी जीवित है। | ||
फरवरी 1977 में, [[ह्यूजेस एयरक्राफ्ट कंपनी]] में एलियाहौ हरारी ने फ्लोटिंग-गेट MOSFET|फ्लोटिंग-गेट और [[वेफर (इलेक्ट्रॉनिक्स)]] के | फरवरी 1977 में, [[ह्यूजेस एयरक्राफ्ट कंपनी]] में एलियाहौ हरारी ने फ्लोटिंग-गेट MOSFET|फ्लोटिंग-गेट और [[वेफर (इलेक्ट्रॉनिक्स)]] के मध्य पतली सिलिकॉन डाइऑक्साइड परत के माध्यम से फील्ड इलेक्ट्रॉन उत्सर्जन#फाउलर-नॉर्डहेम टनलिंग|फाउलर-नॉर्डहेम टनलिंग का उपयोग करके नई EEPROM तकनीक का आविष्कार किया। ). | ||
ह्यूजेस ने इस नए EEPROM उपकरणों का उत्पादन किया।<ref>{{cite web |url=http://archive.computerhistory.org/resources/access/text/2012/03/102745933-05-01-acc.pdf |title= 1027459330501acc.pdf |access-date=2015-02-05 |url-status=live |archive-url=http://archive.wikiwix.com/cache/20150207004103/http://archive.computerhistory.org/resources/access/text/2012/03/102745933-05-01-acc.pdf |archive-date=2015-02-07 }}</ref> | ह्यूजेस ने इस नए EEPROM उपकरणों का उत्पादन किया।<ref>{{cite web |url=http://archive.computerhistory.org/resources/access/text/2012/03/102745933-05-01-acc.pdf |title= 1027459330501acc.pdf |access-date=2015-02-05 |url-status=live |archive-url=http://archive.wikiwix.com/cache/20150207004103/http://archive.computerhistory.org/resources/access/text/2012/03/102745933-05-01-acc.pdf |archive-date=2015-02-07 }}</ref> | ||
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1976 से 1978 के आसपास, [[जॉर्ज पेरलेगोस]] समेत इंटेल की टीम ने इस टनलिंग ई को | 1976 से 1978 के आसपास, [[जॉर्ज पेरलेगोस]] समेत इंटेल की टीम ने इस टनलिंग ई को उत्तम बनाने के लिए कुछ आविष्कार किए।<sup>2</sup>PROM तकनीक.<ref> | ||
{{cite web|last1=Simko|first1=Richard T.|title=Electrically programmable and electrically erasable MOS memory cell|url=https://patents.google.com/patent/US4119995A/en|date=17 March 1977}} | {{cite web|last1=Simko|first1=Richard T.|title=Electrically programmable and electrically erasable MOS memory cell|url=https://patents.google.com/patent/US4119995A/en|date=17 March 1977}} | ||
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==FLOTOX संरचना का सैद्धांतिक आधार== | ==FLOTOX संरचना का सैद्धांतिक आधार== | ||
[[File:Flash-Programming.svg|thumb|आज के NOR गेट का विद्युत चार्ज तंत्र|NOR-प्रकार फ्लैश मेमोरी [[मेमोरी सेल (कंप्यूटिंग)]]]] | [[File:Flash-Programming.svg|thumb|आज के NOR गेट का विद्युत चार्ज तंत्र|NOR-प्रकार फ्लैश मेमोरी [[मेमोरी सेल (कंप्यूटिंग)]]]] | ||
[[File:Flash erase.svg|thumb|आज के NOR गेट का विद्युत निर्वहन तंत्र|NOR-प्रकार फ्लैश मेमोरी मेमोरी सेल (कंप्यूटिंग)]]जैसा कि पूर्व अनुभाग में वर्णित है, पुराने ईईपीरोम उच्च [[ब्रेकडाउन वोल्टेज]] के साथ हिमस्खलन ब्रेकडाउन-आधारित हॉट-कैरियर इंजेक्शन पर आधारित हैं। लेकिन FLOTOX का सैद्धांतिक आधार फील्ड इलेक्ट्रॉन उत्सर्जन # फाउलर-नॉर्डहाइम टनलिंग है। फ्लोटिंग-गेट MOSFET और वेफर के | [[File:Flash erase.svg|thumb|आज के NOR गेट का विद्युत निर्वहन तंत्र|NOR-प्रकार फ्लैश मेमोरी मेमोरी सेल (कंप्यूटिंग)]]जैसा कि पूर्व अनुभाग में वर्णित है, पुराने ईईपीरोम उच्च [[ब्रेकडाउन वोल्टेज]] के साथ हिमस्खलन ब्रेकडाउन-आधारित हॉट-कैरियर इंजेक्शन पर आधारित हैं। लेकिन FLOTOX का सैद्धांतिक आधार फील्ड इलेक्ट्रॉन उत्सर्जन # फाउलर-नॉर्डहाइम टनलिंग है। फ्लोटिंग-गेट MOSFET और वेफर के मध्य पतली सिलिकॉन डाइऑक्साइड परत के माध्यम से फाउलर-नॉर्डहाइम टनलिंग हॉट-कैरियर इंजेक्शन। दूसरे शब्दों में, यह सुरंग जंक्शन का उपयोग करता है।<ref name="Gutmann-2001"> | ||
{{cite journal |last1=Gutmann |first1=Peter |title=Data Remanence in Semiconductor Devices |journal=10th USENIX SECURITY SYMPOSIUM |date=2001-08-15 |pages=39–54 |url=http://static.usenix.org/legacy/events/sec01/full_papers/gutmann/gutmann_html/#_Ref513619292 |publisher=IBM T. J. Watson Research Center |url-status=live |archive-url=https://web.archive.org/web/20161012131700/http://static.usenix.org/legacy/events/sec01/full_papers/gutmann/gutmann_html/#_Ref513619292 |archive-date=2016-10-12}} | {{cite journal |last1=Gutmann |first1=Peter |title=Data Remanence in Semiconductor Devices |journal=10th USENIX SECURITY SYMPOSIUM |date=2001-08-15 |pages=39–54 |url=http://static.usenix.org/legacy/events/sec01/full_papers/gutmann/gutmann_html/#_Ref513619292 |publisher=IBM T. J. Watson Research Center |url-status=live |archive-url=https://web.archive.org/web/20161012131700/http://static.usenix.org/legacy/events/sec01/full_papers/gutmann/gutmann_html/#_Ref513619292 |archive-date=2016-10-12}} | ||
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===सीरियल बस डिवाइस=== | ===सीरियल बस डिवाइस=== | ||
सामान्य सीरियल इंटरफ़ेस [[सीरियल पेरिफेरल इंटरफ़ेस बस]], I²C, [[माइक्रोवायर]], UNI/O और [[1-तार]] हैं। | सामान्य सीरियल इंटरफ़ेस [[सीरियल पेरिफेरल इंटरफ़ेस बस]], I²C, [[माइक्रोवायर]], UNI/O और [[1-तार]] हैं। यह 1 से 4 डिवाइस पिन का उपयोग करते हैं और डिवाइस को 8 पिन या उससे कम वाले पैकेज का उपयोग करने की अनुमति देते हैं। | ||
एक विशिष्ट EEPROM सीरियल प्रोटोकॉल में तीन चरण होते हैं: [[Opcode]]|OP-कोड चरण, पता चरण और डेटा चरण। ओपी-कोड आमतौर पर EEPROM डिवाइस के सीरियल इनपुट पिन का पहला 8 बिट इनपुट होता है (या अधिकांश I²C डिवाइस के साथ, यह अंतर्निहित होता है); इसके | एक विशिष्ट EEPROM सीरियल प्रोटोकॉल में तीन चरण होते हैं: [[Opcode]]|OP-कोड चरण, पता चरण और डेटा चरण। ओपी-कोड आमतौर पर EEPROM डिवाइस के सीरियल इनपुट पिन का पहला 8 बिट इनपुट होता है (या अधिकांश I²C डिवाइस के साथ, यह अंतर्निहित होता है); इसके पश्चात् डिवाइस की गहराई के आधार पर 8 से 24 बिट एड्रेसिंग होती है, फिर डेटा पढ़ा या लिखा जाता है। | ||
प्रत्येक EEPROM डिवाइस में आमतौर पर विभिन्न कार्यों के लिए | प्रत्येक EEPROM डिवाइस में आमतौर पर विभिन्न कार्यों के लिए मानचित्र किए गए ओपी-कोड निर्देशों का अपना समूह होता है। सीरियल पेरिफेरल इंटरफ़ेस बस EEPROM उपकरणों पर सामान्य संचालन हैं: | ||
* सक्षम लिखें (WRENAL) | * सक्षम लिखें (WRENAL) | ||
* अक्षम लिखें (WRDI) | * अक्षम लिखें (WRDI) | ||
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समानांतर EEPROM उपकरणों में आमतौर पर 8-बिट डेटा बस और एड्रेस बस होती है जो पूरी मेमोरी को कवर करने के लिए पर्याप्त होती है। अधिकांश उपकरणों में चिप सेलेक्ट और राइट प्रोटेक्ट पिन होते हैं। कुछ माइक्रोकंट्रोलर्स ने समानांतर EEPROM को भी एकीकृत किया है। | समानांतर EEPROM उपकरणों में आमतौर पर 8-बिट डेटा बस और एड्रेस बस होती है जो पूरी मेमोरी को कवर करने के लिए पर्याप्त होती है। अधिकांश उपकरणों में चिप सेलेक्ट और राइट प्रोटेक्ट पिन होते हैं। कुछ माइक्रोकंट्रोलर्स ने समानांतर EEPROM को भी एकीकृत किया है। | ||
सीरियल EEPROM की तुलना में समानांतर EEPROM का संचालन सरल और तेज़ है, लेकिन | सीरियल EEPROM की तुलना में समानांतर EEPROM का संचालन सरल और तेज़ है, लेकिन यह डिवाइस उच्च पिन गिनती (28 पिन या अधिक) के कारण बड़े हैं और सीरियल EEPROM या फ्लैश के पक्ष में लोकप्रियता में कमी आ रही है। | ||
===अन्य उपकरण=== | ===अन्य उपकरण=== | ||
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संग्रहीत जानकारी की दो सीमाएँ हैं: सहनशक्ति और डेटा प्रतिधारण। | संग्रहीत जानकारी की दो सीमाएँ हैं: सहनशक्ति और डेटा प्रतिधारण। | ||
पुनर्लेखन के दौरान, फ्लोटिंग-गेट ट्रांजिस्टर में गेट ऑक्साइड धीरे-धीरे फंसे हुए इलेक्ट्रॉनों को जमा करता है। फंसे हुए इलेक्ट्रॉनों का विद्युत क्षेत्र फ्लोटिंग गेट में इलेक्ट्रॉनों को जोड़ता है, जिससे शून्य बनाम के लिए थ्रेसहोल्ड वोल्टेज के | पुनर्लेखन के दौरान, फ्लोटिंग-गेट ट्रांजिस्टर में गेट ऑक्साइड धीरे-धीरे फंसे हुए इलेक्ट्रॉनों को जमा करता है। फंसे हुए इलेक्ट्रॉनों का विद्युत क्षेत्र फ्लोटिंग गेट में इलेक्ट्रॉनों को जोड़ता है, जिससे शून्य बनाम के लिए थ्रेसहोल्ड वोल्टेज के मध्य की खिड़की कम हो जाती है। पर्याप्त संख्या में पुनर्लेखन चक्रों के पश्चात्, अंतर पहचानने योग्य होने के लिए बहुत छोटा हो जाता है, कोशिका क्रमादेशित अवस्था में फंस जाती है, और सहनशक्ति विफलता हो जाती है। निर्माता आमतौर पर पुनर्लेखन की अधिकतम संख्या 1 मिलियन या उससे अधिक निर्दिष्ट करते हैं।<ref>{{cite web|url=http://www.rohm.com/products/lsi/eeprom/faq.html|title=अक्सर पूछे जाने वाले प्रश्न -आरओएचएम सेमीकंडक्टर|url-status=live|archive-url=https://web.archive.org/web/20110219060902/http://www.rohm.com/products/lsi/eeprom/faq.html|archive-date=2011-02-19}}</ref> | ||
भंडारण के दौरान, फ्लोटिंग गेट में इंजेक्ट किए गए इलेक्ट्रॉन, विशेष रूप से बढ़े हुए तापमान पर, इंसुलेटर के माध्यम से बह सकते हैं, और चार्ज हानि का कारण बन सकते हैं, जिससे सेल मिटी हुई स्थिति में वापस आ सकता है। निर्माता आमतौर पर 10 साल या उससे अधिक के डेटा प्रतिधारण की गारंटी देते हैं।<ref>System Integration - From Transistor Design to Large Scale Integrated Circuits</ref> | भंडारण के दौरान, फ्लोटिंग गेट में इंजेक्ट किए गए इलेक्ट्रॉन, विशेष रूप से बढ़े हुए तापमान पर, इंसुलेटर के माध्यम से बह सकते हैं, और चार्ज हानि का कारण बन सकते हैं, जिससे सेल मिटी हुई स्थिति में वापस आ सकता है। निर्माता आमतौर पर 10 साल या उससे अधिक के डेटा प्रतिधारण की गारंटी देते हैं।<ref>System Integration - From Transistor Design to Large Scale Integrated Circuits</ref> | ||
==संबंधित प्रकार== | ==संबंधित प्रकार== | ||
फ़्लैश मेमोरी EEPROM का | फ़्लैश मेमोरी EEPROM का पश्चात् का रूप है। उद्योग में, EEPROM शब्द को ब्लॉक-वार मिटाने योग्य फ्लैश मेमोरी की तुलना में बाइट-वार मिटाने योग्य यादों में आरक्षित करने की परंपरा है। EEPROM समान क्षमता के लिए फ्लैश मेमोरी की तुलना में अधिक डाई क्षेत्र घेरता है, क्योंकि प्रत्येक सेल को आमतौर पर पढ़ने, लिखने और मिटाने वाले [[ट्रांजिस्टर]] की आवश्यकता होती है, जबकि फ्लैश मेमोरी इरेज़ परिपथ को कोशिकाओं के बड़े ब्लॉक (अक्सर 512×8) द्वारा साझा किया जाता है। | ||
नई गैर-वाष्पशील मेमोरी प्रौद्योगिकियाँ जैसे कि [[फेरोइलेक्ट्रिक रैम]] और एमआरएएम धीरे-धीरे कुछ अनुप्रयोगों में ईईपीरोम की | नई गैर-वाष्पशील मेमोरी प्रौद्योगिकियाँ जैसे कि [[फेरोइलेक्ट्रिक रैम]] और एमआरएएम धीरे-धीरे कुछ अनुप्रयोगों में ईईपीरोम की स्थान ले रही हैं, लेकिन निकट भविष्य में ईईपीरोम बाजार का छोटा सा हिस्सा बने रहने की उम्मीद है। | ||
===ईपीरोम और ईईपीरोम/फ्लैश के साथ तुलना=== | ===ईपीरोम और ईईपीरोम/फ्लैश के साथ तुलना=== | ||
EPROM और EEPROM के | EPROM और EEPROM के मध्य अंतर यह है कि मेमोरी कैसे प्रोग्राम करती है और मिटा देती है। EEPROM [[क्षेत्र इलेक्ट्रॉन उत्सर्जन]] उत्सर्जन (उद्योग में आमतौर पर फाउलर-नॉर्डहाइम टनलिंग के रूप में जाना जाता है) का उपयोग करके विद्युत रूप से प्रोग्राम और मिटाया जा सकता है। | ||
EPROMs को विद्युतीय रूप से मिटाया नहीं जा सकता है और इन्हें फ्लोटिंग गेट पर हॉट-कैरियर इंजेक्शन द्वारा प्रोग्राम किया जाता है। मिटाना [[पराबैंगनी]] प्रकाश स्रोत द्वारा होता है, हालांकि व्यवहार में | EPROMs को विद्युतीय रूप से मिटाया नहीं जा सकता है और इन्हें फ्लोटिंग गेट पर हॉट-कैरियर इंजेक्शन द्वारा प्रोग्राम किया जाता है। मिटाना [[पराबैंगनी]] प्रकाश स्रोत द्वारा होता है, हालांकि व्यवहार में अनेक ईपीरोम प्लास्टिक में संपुटित होते हैं जो यूवी प्रकाश के लिए अपारदर्शी होते हैं, जो उन्हें बार प्रोग्राम करने योग्य बनाते हैं। | ||
अधिकांश NOR फ्लैश मेमोरी हाइब्रिड शैली है - प्रोग्रामिंग हॉट-कैरियर इंजेक्शन के माध्यम से होती है और मिटाना फ़ील्ड इलेक्ट्रॉन उत्सर्जन के माध्यम से होता है | फाउलर-नॉर्डहाइम टनलिंग। | अधिकांश NOR फ्लैश मेमोरी हाइब्रिड शैली है - प्रोग्रामिंग हॉट-कैरियर इंजेक्शन के माध्यम से होती है और मिटाना फ़ील्ड इलेक्ट्रॉन उत्सर्जन के माध्यम से होता है | फाउलर-नॉर्डहाइम टनलिंग। | ||
Revision as of 20:40, 21 July 2023
| कंप्यूटर मेमोरी और डेटा स्टोरेज प्रकार |
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