पूर्ण-युग्म परीक्षण

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कंप्यूटर विज्ञान में, सभी-जोड़ी परीक्षण या जोड़ीवार परीक्षण सॉफ़्टवेयर परीक्षण का एक संयुक्त तरीका है, जो एक सिस्टम (आमतौर पर, एक सॉफ्टवेयर कलन विधि) के इनपुट मापदंडों के प्रत्येक जोड़ी के लिए, उन मापदंडों के सभी संभावित असतत संयोजनों का परीक्षण करता है। सावधानी से चुने गए परीक्षण वैक्टर का उपयोग करके, यह पैरामीटर जोड़े के परीक्षणों को समानांतर करके, सॉफ्टवेयर परीक्षण # इनपुट संयोजनों और सभी मापदंडों की पूर्व शर्त की एक विस्तृत खोज की तुलना में बहुत तेजी से किया जा सकता है।

औचित्य

एक प्रोग्राम में सबसे आम बग आम तौर पर या तो एक इनपुट पैरामीटर या पैरामीटर के जोड़े के बीच बातचीत से ट्रिगर होते हैं।[1] तीन या अधिक पैरामीटर के बीच अंतःक्रिया से जुड़े बग दोनों उत्तरोत्तर कम आम हैं [2] और खोजने के लिए उत्तरोत्तर अधिक महंगा भी --- इस तरह के परीक्षण में सभी संभावित इनपुट के परीक्षण की सीमा होती है।[3] इस प्रकार, सभी जोड़े परीक्षण जैसे परीक्षण मामलों को चुनने के लिए एक संयुक्त तकनीक एक उपयोगी लागत-लाभ समझौता है जो कार्यात्मक कवरेज से समझौता किए बिना परीक्षण मामलों की संख्या में महत्वपूर्ण कमी को सक्षम बनाता है।[4] अधिक सख्ती से, अगर हम मानते हैं कि एक टेस्ट केस है एक सेट में दिए गए पैरामीटर . मापदंडों की सीमा द्वारा दिया जाता है . चलिए मान लेते हैं . हम ध्यान दें कि सभी संभावित परीक्षण मामलों की संख्या एक है . यह कल्पना करना कि कोड एक समय में केवल दो पैरामीटर लेने वाली स्थितियों से संबंधित है, आवश्यक परीक्षण मामलों की संख्या को कम कर सकता है।[clarification needed]

प्रदर्शित करने के लिए, मान लीजिए कि एक्स, वाई, जेड पैरामीटर हैं। हम प्रपत्र के एक विधेय (गणितीय तर्क) का उपयोग कर सकते हैं ऑर्डर 3 का, जो सभी 3 को इनपुट के रूप में लेता है, या बल्कि तीन अलग-अलग ऑर्डर 2 फॉर्म की भविष्यवाणी करता है . के समकक्ष रूप में लिखा जा सकता है जहाँ अल्पविराम किसी भी संयोजन को दर्शाता है। यदि कोड को मापदंडों के जोड़े लेने वाली शर्तों के रूप में लिखा गया है, फिर श्रेणियों के विकल्पों का सेट एक multiset हो सकता है[clarification needed], क्योंकि विकल्पों की समान संख्या वाले अनेक पैरामीटर हो सकते हैं।

मल्टीसेट के अधिकतम में से एक है इस टेस्ट फंक्शन पर पेयर-वाइज टेस्ट केस की संख्या होगी:- इसलिए, यदि और तो परीक्षणों की संख्या आम तौर पर ओ (एनएम) होती है, जहां एन और एम सबसे अधिक विकल्पों वाले दो पैरामीटरों में से प्रत्येक के लिए संभावनाओं की संख्या होती है, और यह संपूर्ण से काफी कम हो सकती है ·

एन-वार परीक्षण

N-वार परीक्षण को युग्म-वार परीक्षण का सामान्यीकृत रूप माना जा सकता है।[citation needed]

विचार सेट पर छँटाई लागू करना है ताकि भी आदेश दिया जाता है। क्रमबद्ध सेट को एक होने दें टपल:-

अब हम सेट ले सकते हैं और इसे जोड़ो में परीक्षण कहते हैं। आगे सामान्यीकरण करते हुए हम सेट ले सकते हैं और इसे 3-वार परीक्षण कहते हैं। आखिरकार, हम कह सकते हैं टी-वार परीक्षण।

एन-वार परीक्षण तब उपर्युक्त सूत्र से सभी संभावित संयोजन होंगे।

उदाहरण

नीचे दी गई तालिका में दिखाए गए मापदंडों पर विचार करें।

Parameter name Value 1 Value 2 Value 3 Value 4
Enabled True False - -
Choice type 1 2 3 -
Category a b c d

'सक्षम', 'पसंद का प्रकार' और 'श्रेणी' में क्रमशः 2, 3 और 4 की पसंद श्रेणी होती है। एक संपूर्ण परीक्षण में 24 परीक्षण (2 x 3 x 4) शामिल होंगे। दो सबसे बड़े मूल्यों (3 और 4) को गुणा करना इंगित करता है कि एक जोड़ी-वार परीक्षणों में 12 परीक्षण शामिल होंगे। माइक्रोसॉफ्ट के पिक्चर टूल द्वारा जनरेट किए गए पेयर वाइज टेस्ट केस नीचे दिखाए गए हैं।

Enabled Choice type Category
True 3 a
True 1 d
False 1 c
False 2 d
True 2 c
False 2 a
False 1 a
False 3 b
True 2 b
True 3 d
False 3 c
True 1 b


यह भी देखें

टिप्पणियाँ

  1. Black, Rex (2007). Pragmatic Software Testing: Becoming an Effective and Efficient Test Professional. New York: Wiley. p. 240. ISBN 978-0-470-12790-2.
  2. Kuhn, D. Richard; Wallace, Dolores R.; Gallo, Albert M., Jr. (June 2004). "सॉफ़्टवेयर दोष सहभागिता और सॉफ़्टवेयर परीक्षण के लिए निहितार्थ" (PDF). IEEE Transactions on Software Engineering. 30 (6): 418–421. doi:10.1109/TSE.2004.24. S2CID 206778290.{{cite journal}}: CS1 maint: multiple names: authors list (link)
  3. Kuhn, D. Richard; Kacker, Raghu N.; Yu Lei (October 2010). Practical Combinatorial Testing. SP 800-142 (Report). National Institute of Standards and Technology. doi:10.6028/NIST.SP.800-142.
  4. IEEE 12. Proceedings from the 5th International Conference on Software Testing and Validation (ICST). Software Competence Center Hagenberg. "Test Design: Lessons Learned and Practical Implications. July 18, 2008. pp. 1–150. doi:10.1109/IEEESTD.2008.4578383. ISBN 978-0-7381-5746-7. {{cite book}}: |journal= ignored (help)


बाहरी संबंध