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विद्युत चुम्बकीय वर्णक्रम के संबंध में विभिन्न लंबाई, मीटर और उसके व्युत्पन्न पैमानों द्वारा मापी जाती है। नैनोमीटर का उपयोग अक्सर परमाणु पैमाने पर आयामों को व्यक्त करने के लिए किया जाता है और अधिकतर अणु पैमाने में।
नैनोमीटर को पहले मिलिमाइक्रोमीटर के रूप में जाना जाता था - या, अधिक सामान्यतः, लघु के लिए मिलीमाइक्रोन - क्योंकि यह है 1/1000 एक माइक्रोन (माइक्रोमीटर) का, और अक्सर इसे μμ के रूप में प्रतीक mμ या (अधिक दुर्लभ और भ्रामक रूप से, क्योंकि यह तार्किक रूप से एक माइक्रोन के दस लाखवें हिस्से को संदर्भित करना चाहिए) द्वारा निरूपित किया जाता था।[1][2][3]
व्युत्पत्ति
नाम एसआई उपसर्ग नैनो को जोड़ता है- (प्राचीन ग्रीक से νάνος,nanos, बौना ) मूल इकाई नाम मीटर के साथ (ग्रीक . से) μέτρον,metrοn, माप की इकाई )।
जब माप की एक इकाई (जैसे नैनो साइंस में) के अलावा किसी अन्य चीज़ के लिए उपसर्ग के रूप में उपयोग किया जाता है, तो 'नैनो' नैनो टेक्नोलॉजी को संदर्भित करता है, या आमतौर पर नैनोमीटर के पैमाने पर होने वाली घटना (नैनोस्कोपिक स्केल देखें)।[1]
उपयोग
नैनोमीटर का उपयोग अक्सर परमाणु पैमाने पर आयामों को व्यक्त करने के लिए किया जाता है: हीलियम परमाणु का व्यास, उदाहरण के लिए, लगभग 0.06 एनएम है, और राइबोसोम का व्यास लगभग 20 एनएम है। इलेक्ट्रोमैग्नेटिक स्पेक्ट्रम के दृश्य भाग के पास विद्युत चुम्बकीय विकिरण की तरंग दैर्ध्य को निर्दिष्ट करने के लिए आमतौर पर नैनोमीटर का उपयोग किया जाता है: दृश्य प्रकाश लगभग 400 से 700 एनएम तक होता है।[4] ngström, जो 0.1 एनएम के बराबर है, पहले इन उद्देश्यों के लिए उपयोग किया जाता था।
यूनिकोड में CJK कम्पेटिबिलिटी ब्लॉक का प्रतीक है U+339A㎚SQUARE NM.
संदर्भ
↑ 1.01.1Svedberg, The; Nichols, J. Burton (1923). "Determination of the size and distribution of size of particle by centrifugal methods". Journal of the American Chemical Society. 45 (12): 2910–2917. doi:10.1021/ja01665a016.
↑Svedberg, The; Rinde, Herman (1924). "The ulta-centrifuge, a new instrument for the determination of size and distribution of size of particle in amicroscopic colloids". Journal of the American Chemical Society. 46 (12): 2677–2693. doi:10.1021/ja01677a011.
↑Terzaghi, Karl (1925). Erdbaumechanik auf bodenphysikalischer Grundlage. Vienna: Franz Deuticke. p. 32.
