सरफस - Revision history

Neeraja at 12:22, 29 August 2023

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	{{short description\|Optical quantitative imaging technique}}		{{short description\|Optical quantitative imaging technique}}
	[[File:Sarfus.DNABiochip.jpg\|thumb\|upright=1.3\|[[डीएनए]] [[बायोचिप]] की 3डी सरफस छवि।]]सरफस प्रकाशिक मात्रात्मक प्रतिबिम्बन पद्धति है जो निम्नलिखित के सहयोग पर आधारित है:		[[File:Sarfus.DNABiochip.jpg\|thumb\|upright=1.3\|[[डीएनए]] [[बायोचिप]] की 3डी सरफस छवि।]]'''सरफस''' प्रकाशिक मात्रात्मक प्रतिबिम्बन पद्धति है जो निम्नलिखित के सहयोग पर आधारित है:
	*पार ध्रुवीकरण विन्यास में एक सीधा या उलटा [[ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप\|प्रकाशिक माइक्रोस्कोप]] और		*पार ध्रुवीकरण विन्यास में एक सीधा या उलटा [[ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप\|प्रकाशिक माइक्रोस्कोप]] और
	* विशिष्ट सहायक प्लेटें - जिन्हें सर्फ कहा जाता है - जिस पर निरीक्षण करने के लिए प्रारूप जमा किया जाता है।		* विशिष्ट सहायक प्लेटें - जिन्हें सर्फ कहा जाता है - जिस पर निरीक्षण करने के लिए प्रारूप जमा किया जाता है।
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alpha>Shivanidubey: /* सिद्धांत */

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सिद्धांत

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	इन सहायकों के प्रदर्शन का अनुमान प्रारूप के विषमता (C) के मापन से लगाया जाता है: C = (I<sub>1</sub>-I<sub>0</sub>)/(I<sub>0</sub>+ I<sub>1</sub>) जहां I<sub>0</sub> और I<sub>1</sub> मात्र सरफस और क्रमशः सरफस पर विश्लेषण किए गए प्रारूपों द्वारा परिलक्षित तीव्रता का प्रतिनिधित्व करते हैं। एक नैनोमीटर-झिल्ली की मोटाई के लिए, सरफस सिलिकॉन वेफर की तुलना में 200 गुना अधिक विषमता प्रदर्शित करते हैं।		इन सहायकों के प्रदर्शन का अनुमान प्रारूप के विषमता (C) के मापन से लगाया जाता है: C = (I<sub>1</sub>-I<sub>0</sub>)/(I<sub>0</sub>+ I<sub>1</sub>) जहां I<sub>0</sub> और I<sub>1</sub> मात्र सरफस और क्रमशः सरफस पर विश्लेषण किए गए प्रारूपों द्वारा परिलक्षित तीव्रता का प्रतिनिधित्व करते हैं। एक नैनोमीटर-झिल्ली की मोटाई के लिए, सरफस सिलिकॉन वेफर की तुलना में 200 गुना अधिक विषमता प्रदर्शित करते हैं।

	यह उच्च विषमता वृद्धि 0.3nm तक मोटाई वाली झिल्लियों के मानक प्रकाशिक सूक्षमदर्शी के साथ-साथ सूक्ष्म-वस्तुएं (2nm व्यास तक) और बिना किसी प्रकार के प्रारूपों चिन्हित (न तो प्रतिदीप्ति, और न ही रेडियोधर्मी मार्कर) के बिना ~~विज़ुअलाइज़ेशन~~ की अनुमति देती है। . एक सिलिकॉन ~~वेफर~~ पर और एक ~~सर्फ~~ पर ~~Langmuir~~-~~Blodgett~~ संरचना ~~\| Langmuir-Blodgett फिल्म~~ के ~~क्रॉस पोलराइज़र~~ के ~~बीच ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी~~ में अवलोकन के साथ ~~कंट्रास्ट~~ बढ़ाने का एक उदाहरण इसके बाद दिया गया है।		यह उच्च विषमता वृद्धि 0.3nm तक मोटाई वाली झिल्लियों के मानक प्रकाशिक सूक्षमदर्शी के साथ-साथ सूक्ष्म-वस्तुएं (2nm व्यास तक) और बिना किसी प्रकार के प्रारूपों चिन्हित (न तो प्रतिदीप्ति, और न ही रेडियोधर्मी मार्कर) के बिना प्रत्योक्षकरण की अनुमति देती है। एक सिलिकॉन वफर पर और एक सरफस पर लंगोमिर-ब्लॉजेट संरचना झिल्लियों के त्रियक ध्रुवण के बिच प्रकाशिक सूक्ष्मदर्शी में अवलोकन के साथ विषमता बढ़ाने का एक उदाहरण इसके बाद दिया गया है।

	~~विज़ुअलाइज़ेशन~~ के ~~अलावा~~, ~~हाल~~ के घटनाक्रमों ने विश्लेषण किए गए ~~नमूने~~ की मोटाई माप तक पहुँचने की अनुमति दी है। ~~नैनो~~-चरणों से बने अंशांकन मानक और विश्लेषित ~~नमूने~~ के बीच एक वर्णमिति पत्राचार किया जाता है। ~~दरअसल~~, ~~ऑप्टिकल~~ हस्तक्षेप के कारण, ~~नमूना~~ के आरजीबी (लाल, हरा, नीला) पैरामीटर और इसकी ~~ऑप्टिकल~~ मोटाई के बीच एक संबंध ~~मौजूद~~ है। यह विश्लेषित ~~नमूनों~~ के 3डी-प्रतिनिधित्व, प्रोफ़ाइल अनुभागों की माप, खुरदरापन और अन्य सामयिक मापों की ओर जाता है।		प्रत्योक्षकरण के अतिरिक्त, वर्तमान के घटनाक्रमों ने विश्लेषण किए गए प्रारूपों की मोटाई माप तक पहुँचने की अनुमति दी है। सूक्ष्म-चरणों से बने अंशांकन मानक और विश्लेषित प्रारूपों के बीच एक वर्णमिति पत्राचार किया जाता है। वास्तव में, प्रकाशिक हस्तक्षेप के कारण, प्रारूप के आरजीबी (लाल, हरा, नीला) पैरामीटर और इसकी प्रकाशिक मोटाई के बीच संबंध उपस्थित है। यह विश्लेषित प्रारूपों के 3डी-प्रतिनिधित्व, प्रोफ़ाइल अनुभागों की माप, खुरदरापन और अन्य सामयिक मापों की ओर जाता है।

	== प्रायोगिक सेटअप ==		== प्रायोगिक सेटअप ==
	प्रायोगिक ~~सेट-अप~~ सरल है: विशेषता वाले ~~नमूने~~ को पारंपरिक ~~माइक्रोस्कोप~~ स्लाइड के ~~बजाय~~ एक ~~सर्फ~~ पर ~~डिप~~-~~कोटिंग~~, ~~स्पिन~~-~~कोटिंग~~, ~~डिपॉजिट पिपेट~~, वाष्पीकरण ... जैसी सामान्य जमा तकनीकों द्वारा जमा किया जाता है। इसके बाद ~~सपोर्ट~~ को ~~माइक्रोस्कोप स्टेज~~ पर रखा जाता है।		प्रायोगिक समूह के ऊपर सरल है: विशेषता वाले प्रारूपों को पारंपरिक सूक्ष्मदर्शी स्लाइड के स्थान पर एक सरफस पर मज्जन-लेपन, चक्रीय-लेपन, जमा नलिका, वाष्पीकरण ... जैसी सामान्य जमा तकनीकों द्वारा जमा किया जाता है। इसके बाद सहायक को सूक्ष्मदर्शी अवस्था पर रखा जाता है।

	==~~मौजूदा~~ उपकरणों के साथ सिनर्जी==		==उपस्थित उपकरणों के साथ सिनर्जी==
	सरफस तकनीक को ~~मौजूदा~~ विश्लेषण उपकरण ([[परमाणु बल माइक्रोस्कोप]] (एएफएम), [[रमन स्पेक्ट्रोस्कोपी]], आदि) में नई कार्यात्मकताओं को जोड़ने के लिए एकीकृत किया जा सकता है, जैसे कि ~~ऑप्टिकल~~ छवि, मोटाई माप, गतिज अध्ययन, और समय बचाने के लिए ~~नमूना~~ पूर्व-स्थानीयकरण के लिए भी और उपभोग्य वस्तुएं (~~AFM~~ टिप्स, आदि)।		सरफस तकनीक को उपस्थित विश्लेषण उपकरण ([[परमाणु बल माइक्रोस्कोप]] (एएफएम), [[रमन स्पेक्ट्रोस्कोपी]], आदि) में नई कार्यात्मकताओं को जोड़ने के लिए एकीकृत किया जा सकता है, जैसे कि प्रकाशिक छवि, मोटाई माप, गतिज अध्ययन, और समय बचाने के लिए प्रारूप पूर्व-स्थानीयकरण के लिए भी और उपभोग्य वस्तुएं ( ऍफ़ऍम टिप्स, आदि) होती हैं।

	== अनुप्रयोग ==		== अनुप्रयोग ==
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	=== जीवन विज्ञान ===		=== जीवन विज्ञान ===
	* जैविक ~~फिल्में~~<ref>{{cite journal\|author=V.Souplet, R.Desmet, O.Melnyk\|journal=J. Pept. Sci.\|year=2007\|volume=13\|pages=451–457\|doi=10.1002/psc.866\|pmid=17559066\|title=पेप्टाइड माइक्रोएरे के लक्षण वर्णन के लिए एक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप के साथ प्रोटीन परतों की इमेजिंग\|issue=7\|s2cid=26078821}}</ref><ref>{{cite journal\|author=O.Carion, V.Souplet, C.Olivier, C.Maillet, N.Médard, O.El-Mahdi, J-O.Durand, O.Melnyk\|journal=ChemBioChem\|year=2007\|volume=8\|pages= 315–322\|title=साइट-विशिष्ट पेप्टाइड स्थिरीकरण और बायोमोलेक्युलर इंटरैक्शन के लिए पॉलीकार्बोनेट का रासायनिक माइक्रोपैटर्निंग\|doi=10.1002/cbic.200600504\|pmid=17226879\|issue=3\|s2cid=1770479}}</ref>		* जैविक झिल्लियां<ref>{{cite journal\|author=V.Souplet, R.Desmet, O.Melnyk\|journal=J. Pept. Sci.\|year=2007\|volume=13\|pages=451–457\|doi=10.1002/psc.866\|pmid=17559066\|title=पेप्टाइड माइक्रोएरे के लक्षण वर्णन के लिए एक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप के साथ प्रोटीन परतों की इमेजिंग\|issue=7\|s2cid=26078821}}</ref><ref>{{cite journal\|author=O.Carion, V.Souplet, C.Olivier, C.Maillet, N.Médard, O.El-Mahdi, J-O.Durand, O.Melnyk\|journal=ChemBioChem\|year=2007\|volume=8\|pages= 315–322\|title=साइट-विशिष्ट पेप्टाइड स्थिरीकरण और बायोमोलेक्युलर इंटरैक्शन के लिए पॉलीकार्बोनेट का रासायनिक माइक्रोपैटर्निंग\|doi=10.1002/cbic.200600504\|pmid=17226879\|issue=3\|s2cid=1770479}}</ref>
	* बायोचिप<ref>{{cite journal\|author=J.Monot, M.Petit, S.M.Lane, I.Guisle, J.Léger, C.Tellier, D.R.Talham, B.Bujoli\|journal=J. Am. Chem. Soc.\|year=2008\|volume=130\|pages=6243–6251\|doi=10.1021/ja711427q\|pmid=18407629\|title=Towards zirconium phosphonate-based microarrays for probing DNA-protein interactions: critical influence of the location of the probe anchoring groups\|issue=19}}</ref>		* बायोचिप<ref>{{cite journal\|author=J.Monot, M.Petit, S.M.Lane, I.Guisle, J.Léger, C.Tellier, D.R.Talham, B.Bujoli\|journal=J. Am. Chem. Soc.\|year=2008\|volume=130\|pages=6243–6251\|doi=10.1021/ja711427q\|pmid=18407629\|title=Towards zirconium phosphonate-based microarrays for probing DNA-protein interactions: critical influence of the location of the probe anchoring groups\|issue=19}}</ref>
	*[[फॉस्फोलिपिड]]		*[[फॉस्फोलिपिड]]
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	*[[सेल आसंजन]]		*[[सेल आसंजन]]

	=== पतली ~~फिल्म~~ और सतह के उपचार ===		=== पतली झिल्ली और सतह के उपचार ===
	* [[पॉलिमर]] ~~फिल्में~~		* [[पॉलिमर\|पॉलिमर झिल्लियां]]
	* [[Langmuir-Blodgett फिल्में]]<ref>{{cite journal\|author=S.Burghardt, A.Hirsch, N.Médard, R.Abou-Kachfhe, D.Ausserré, M.P.Valignat, J.L.Gallani\|journal=Langmuir\|volume=21\|pages=7540–7544 \|year=2005\|doi=10.1021/la051297n\|pmid=16042492\|title=फुलरीन-आधारित अणु के साथ अत्यधिक स्थिर कार्बनिक चरणों की तैयारी\|issue=16}}</ref>		* [[Langmuir-Blodgett फिल्में\|लंगोमिर-ब्लॉजेट झिल्लियां]] <ref>{{cite journal\|author=S.Burghardt, A.Hirsch, N.Médard, R.Abou-Kachfhe, D.Ausserré, M.P.Valignat, J.L.Gallani\|journal=Langmuir\|volume=21\|pages=7540–7544 \|year=2005\|doi=10.1021/la051297n\|pmid=16042492\|title=फुलरीन-आधारित अणु के साथ अत्यधिक स्थिर कार्बनिक चरणों की तैयारी\|issue=16}}</ref>
	* [[लिक्विड क्रिस्टल]]		* [[लिक्विड क्रिस्टल]]
	*प्लाज्मा उपचार		*प्लाज्मा उपचार
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	== लाभ ==		== लाभ ==
	नैनोचरित्रकरण की सामान्य तकनीकों की तुलना में ~~ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी~~ के कई ~~फायदे~~ हैं। यह उपयोग में ~~आसान~~ है और सीधे ~~नमूने~~ की कल्पना करता है। वास्तविक समय में विश्लेषण गतिज अध्ययन (वास्तविक समय क्रिस्टलीकरण, डीवेटिंग, आदि) की अनुमति देता है। आवर्धन का व्यापक विकल्प (2.5 से 100x) कई ~~मिमी से देखने के क्षेत्र की अनुमति देता है~~<sup>2</sup> से कुछ दस µm<sup>2<~~/उप~~>। अवलोकन नियंत्रित वातावरण और तापमान में किया जा सकता है।		नैनोचरित्रकरण की सामान्य तकनीकों की तुलना में प्रकाशिक सूक्षमदर्शी के कई लाभ हैं। यह उपयोग में सरल है और सीधे प्रारूपों की कल्पना करता है। वास्तविक समय में विश्लेषण गतिज अध्ययन (वास्तविक समय क्रिस्टलीकरण, डीवेटिंग, आदि) की अनुमति देता है। आवर्धन का व्यापक विकल्प (2.5 से 100x) कई mm<sup>2</sup> से से कुछ दस µm<sup>2 देखने के क्षेत्र की अनुमति देता है \| <sup>अवलोकन नियंत्रित वातावरण और तापमान में किया जा सकता है।

	==संदर्भ==		==संदर्भ==

alpha>Shivanidubey at 07:34, 15 June 2023

2023-06-15T07:34:43Z

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	{{short description\|Optical quantitative imaging technique}}		{{short description\|Optical quantitative imaging technique}}
	[[File:Sarfus.DNABiochip.jpg\|thumb\|upright=1.3\|[[डीएनए]] [[बायोचिप]] की 3डी सरफस छवि।]]सरफस ~~एक ऑप्टिकल क्वांटिटेटिव इमेजिंग तकनीक~~ है जो निम्नलिखित के सहयोग पर आधारित है:		[[File:Sarfus.DNABiochip.jpg\|thumb\|upright=1.3\|[[डीएनए]] [[बायोचिप]] की 3डी सरफस छवि।]]सरफस प्रकाशिक मात्रात्मक प्रतिबिम्बन पद्धति है जो निम्नलिखित के सहयोग पर आधारित है:
	*पार ध्रुवीकरण विन्यास में एक सीधा या उलटा [[ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप]] और		*पार ध्रुवीकरण विन्यास में एक सीधा या उलटा [[ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप\|प्रकाशिक माइक्रोस्कोप]] और
	* विशिष्ट सहायक प्लेटें - जिन्हें सर्फ कहा जाता है - जिस पर निरीक्षण करने के लिए ~~नमूना~~ जमा किया जाता है।		* विशिष्ट सहायक प्लेटें - जिन्हें सर्फ कहा जाता है - जिस पर निरीक्षण करने के लिए प्रारूप जमा किया जाता है।

	सरफस ~~विज़ुअलाइज़ेशन~~ एक सतह पर ध्रुवीकृत प्रकाश के प्रतिबिंब गुणों के पूर्ण नियंत्रण पर आधारित है, जो इसके पार्श्व ~~रिज़ॉल्यूशन~~ को कम किए बिना लगभग 100 के कारक द्वारा ~~ऑप्टिकल~~ माइक्रोस्कोप की अक्षीय संवेदनशीलता में वृद्धि की ओर जाता है। इस प्रकार यह नई तकनीक मानक ~~ऑप्टिकल~~ माइक्रोस्कोप की संवेदनशीलता को एक बिंदु तक बढ़ा देती है कि वास्तविक समय में पतली ~~फिल्मों~~ (0.3 माइक्रोमीटर तक) और पृथक ~~नैनो-ऑब्जेक्ट्स को~~ प्रत्यक्ष रूप से देखना संभव हो जाता है, चाहे वह हवा में हो या पानी ~~में।~~		सरफस प्रत्योक्षकरण एक सतह पर ध्रुवीकृत प्रकाश के प्रतिबिंब गुणों के पूर्ण नियंत्रण पर आधारित है, जो इसके पार्श्व विश्लेषण को कम किए बिना लगभग 100 के कारक द्वारा प्रकाशिक माइक्रोस्कोप की अक्षीय संवेदनशीलता में वृद्धि की ओर जाता है। इस प्रकार यह नई तकनीक मानक प्रकाशिक माइक्रोस्कोप की संवेदनशीलता को बिंदु तक बढ़ा देती है कि वास्तविक समय में पतली झिल्ली (0.3 माइक्रोमीटर तक) और पृथक सूक्ष्म वस्तुएं प्रत्यक्ष रूप से देखना संभव हो जाता है, चाहे वह हवा में हो या पानी में हो।

	== सिद्धांत ==		== सिद्धांत ==
	[[File:Sarfus LBLayers.JPG\|thumb\|upright=1.8\|Langmuir-Blodgett फिल्म \| Langmuir-Blodgett परतों (बिलेयर मोटाई: 5.4 एनएम) के सिलिकॉन वेफर और सर्फ पर क्रॉस पोलराइज़र के बीच मानक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप के साथ अवलोकन]]		[[File:Sarfus LBLayers.JPG\|thumb\|upright=1.8\|Langmuir-Blodgett फिल्म \| Langmuir-Blodgett परतों (बिलेयर मोटाई: 5.4 एनएम) के सिलिकॉन वेफर और सर्फ पर क्रॉस पोलराइज़र के बीच मानक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप के साथ अवलोकन]]
	[[File:Sarfus PolarisationState.jpg\|thumb\|upright=1.8\|एक सर्फ (0) और एक सर्फ (1) पर नैनोस्केल नमूने पर प्रतिबिंब के बाद प्रकाश ध्रुवीकरण।]]ध्रुवीकृत प्रकाश सुसंगतता पर ~~हाल~~ के एक अध्ययन से ~~क्रॉस पोलराइज़र मोड~~ में मानक ~~ऑप्टिकल~~ माइक्रोस्कोपी के लिए विपरीत प्रवर्धन गुणों वाले नए समर्थन - सर्फ - के विकास की ओर अग्रसर होता है।<ref>{{cite journal\|author1=Ausserré D \|author2=Valignat MP \|journal=Nano Letters\|year=2006\|volume=6\|pages=1384–1388\|doi=10.1021/nl060353h\|pmid=16834416\|title=सतह नैनोस्ट्रक्चर की वाइड-फील्ड ऑप्टिकल इमेजिंग\|issue=7\|bibcode = 2006NanoL...6.1384A }}</ref> एक अपारदर्शी या पारदर्शी ~~सब्सट्रेट~~ पर ~~ऑप्टिकल~~ परतों से बने, ये ~~समर्थन~~ प्रतिबिंब के बाद प्रकाश ध्रुवीकरण को संशोधित नहीं करते हैं, भले ही घटना स्रोत का संख्यात्मक ~~एपर्चर~~ महत्वपूर्ण हो। इस ~~संपत्ति~~ को संशोधित किया जाता है जब एक ~~नमूना एक सर्फ~~ पर ~~मौजूद~~ होता है, तो ~~एक गैर-शून्य~~ प्रकाश घटक का पता लगाया जाता है, जब विश्लेषक ~~नमूना~~ दिखाई दे रहा होता है।		[[File:Sarfus PolarisationState.jpg\|thumb\|upright=1.8\|एक सर्फ (0) और एक सर्फ (1) पर नैनोस्केल नमूने पर प्रतिबिंब के बाद प्रकाश ध्रुवीकरण।]]ध्रुवीकृत प्रकाश सुसंगतता पर वर्तमान ही के एक अध्ययन से तिर्यक ध्रुवण अवस्था में मानक प्रकाशिक माइक्रोस्कोपी के लिए विपरीत प्रवर्धन गुणों वाले नए समर्थन - सर्फ - के विकास की ओर अग्रसर होता है।<ref>{{cite journal\|author1=Ausserré D \|author2=Valignat MP \|journal=Nano Letters\|year=2006\|volume=6\|pages=1384–1388\|doi=10.1021/nl060353h\|pmid=16834416\|title=सतह नैनोस्ट्रक्चर की वाइड-फील्ड ऑप्टिकल इमेजिंग\|issue=7\|bibcode = 2006NanoL...6.1384A }}</ref> एक अपारदर्शी या पारदर्शी आणविक पर प्रकाशिक परतों से बने, ये सहायक प्रतिबिंब के बाद प्रकाश ध्रुवीकरण को संशोधित नहीं करते हैं, भले ही घटना स्रोत का संख्यात्मक छिद्र महत्वपूर्ण हो। इस गुण को संशोधित किया जाता है जब प्रारूप एक सरफस पर उपस्थित होता है, तो अशून्य प्रकाश घटक का पता लगाया जाता है, जब विश्लेषक प्रारूप दिखाई दे रहा होता है।

	इन ~~समर्थनों~~ के प्रदर्शन का अनुमान ~~नमूने~~ के ~~कंट्रास्ट~~ (C) के मापन से लगाया जाता है: C = (I<sub>1</sub>-~~मैं~~<sub>0</sub>)/(~~मैं~~<sub>0</sub>+ ~~मैं~~<sub>1</sub>) जहां ~~मैं~~<sub>0</sub> और ~~मैं~~<sub>1</sub> ~~नंगे सर्फ~~ और क्रमशः ~~सर्फ~~ पर विश्लेषण किए गए ~~नमूने~~ द्वारा परिलक्षित तीव्रता का प्रतिनिधित्व करते हैं। एक नैनोमीटर-~~फिल्म~~ की मोटाई के लिए, ~~सर्फ~~ सिलिकॉन वेफर की तुलना में 200 गुना अधिक ~~कंट्रास्ट~~ प्रदर्शित करते हैं।		इन सहायकों के प्रदर्शन का अनुमान प्रारूप के विषमता (C) के मापन से लगाया जाता है: C = (I<sub>1</sub>-I<sub>0</sub>)/(I<sub>0</sub>+ I<sub>1</sub>) जहां I<sub>0</sub> और I<sub>1</sub> मात्र सरफस और क्रमशः सरफस पर विश्लेषण किए गए प्रारूपों द्वारा परिलक्षित तीव्रता का प्रतिनिधित्व करते हैं। एक नैनोमीटर-झिल्ली की मोटाई के लिए, सरफस सिलिकॉन वेफर की तुलना में 200 गुना अधिक विषमता प्रदर्शित करते हैं।

	यह उच्च ~~कंट्रास्ट~~ वृद्धि 0.~~3 एनएम तक~~ मोटाई वाली ~~फिल्मों~~ के मानक ~~ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप~~ के साथ-साथ ~~नैनो~~-~~ऑब्जेक्ट्स~~ (~~2 एनएम व्यास~~ तक) और बिना किसी प्रकार के ~~नमूना लेबलिंग~~ (न तो प्रतिदीप्ति, और न ही रेडियोधर्मी मार्कर) के बिना विज़ुअलाइज़ेशन की अनुमति देती है। . एक सिलिकॉन वेफर पर और एक सर्फ पर Langmuir-Blodgett संरचना \| Langmuir-Blodgett फिल्म के क्रॉस पोलराइज़र के बीच ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी में अवलोकन के साथ कंट्रास्ट बढ़ाने का एक उदाहरण इसके बाद दिया गया है।		यह उच्च विषमता वृद्धि 0.3nm तक मोटाई वाली झिल्लियों के मानक प्रकाशिक सूक्षमदर्शी के साथ-साथ सूक्ष्म-वस्तुएं (2nm व्यास तक) और बिना किसी प्रकार के प्रारूपों चिन्हित (न तो प्रतिदीप्ति, और न ही रेडियोधर्मी मार्कर) के बिना विज़ुअलाइज़ेशन की अनुमति देती है। . एक सिलिकॉन वेफर पर और एक सर्फ पर Langmuir-Blodgett संरचना \| Langmuir-Blodgett फिल्म के क्रॉस पोलराइज़र के बीच ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी में अवलोकन के साथ कंट्रास्ट बढ़ाने का एक उदाहरण इसके बाद दिया गया है।

	विज़ुअलाइज़ेशन के अलावा, हाल के घटनाक्रमों ने विश्लेषण किए गए नमूने की मोटाई माप तक पहुँचने की अनुमति दी है। नैनो-चरणों से बने अंशांकन मानक और विश्लेषित नमूने के बीच एक वर्णमिति पत्राचार किया जाता है। दरअसल, ऑप्टिकल हस्तक्षेप के कारण, नमूना के आरजीबी (लाल, हरा, नीला) पैरामीटर और इसकी ऑप्टिकल मोटाई के बीच एक संबंध मौजूद है। यह विश्लेषित नमूनों के 3डी-प्रतिनिधित्व, प्रोफ़ाइल अनुभागों की माप, खुरदरापन और अन्य सामयिक मापों की ओर जाता है।		विज़ुअलाइज़ेशन के अलावा, हाल के घटनाक्रमों ने विश्लेषण किए गए नमूने की मोटाई माप तक पहुँचने की अनुमति दी है। नैनो-चरणों से बने अंशांकन मानक और विश्लेषित नमूने के बीच एक वर्णमिति पत्राचार किया जाता है। दरअसल, ऑप्टिकल हस्तक्षेप के कारण, नमूना के आरजीबी (लाल, हरा, नीला) पैरामीटर और इसकी ऑप्टिकल मोटाई के बीच एक संबंध मौजूद है। यह विश्लेषित नमूनों के 3डी-प्रतिनिधित्व, प्रोफ़ाइल अनुभागों की माप, खुरदरापन और अन्य सामयिक मापों की ओर जाता है।

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{{short description|Optical quantitative imaging technique}}
[[File:Sarfus.DNABiochip.jpg|thumb|upright=1.3|[[डीएनए]] [[बायोचिप]] की 3डी सरफस छवि।]]सरफस एक ऑप्टिकल क्वांटिटेटिव इमेजिंग तकनीक है जो निम्नलिखित के सहयोग पर आधारित है:
*पार ध्रुवीकरण विन्यास में एक सीधा या उलटा [[ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप]] और
* विशिष्ट सहायक प्लेटें - जिन्हें सर्फ कहा जाता है - जिस पर निरीक्षण करने के लिए नमूना जमा किया जाता है।

सरफस विज़ुअलाइज़ेशन एक सतह पर ध्रुवीकृत प्रकाश के प्रतिबिंब गुणों के पूर्ण नियंत्रण पर आधारित है, जो इसके पार्श्व रिज़ॉल्यूशन को कम किए बिना लगभग 100 के कारक द्वारा ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप की अक्षीय संवेदनशीलता में वृद्धि की ओर जाता है। इस प्रकार यह नई तकनीक मानक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप की संवेदनशीलता को एक बिंदु तक बढ़ा देती है कि वास्तविक समय में पतली फिल्मों (0.3 माइक्रोमीटर तक) और पृथक नैनो-ऑब्जेक्ट्स को प्रत्यक्ष रूप से देखना संभव हो जाता है, चाहे वह हवा में हो या पानी में।

== सिद्धांत ==
[[File:Sarfus LBLayers.JPG|thumb|upright=1.8|Langmuir-Blodgett फिल्म | Langmuir-Blodgett परतों (बिलेयर मोटाई: 5.4 एनएम) के सिलिकॉन वेफर और सर्फ पर क्रॉस पोलराइज़र के बीच मानक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप के साथ अवलोकन]]
[[File:Sarfus PolarisationState.jpg|thumb|upright=1.8|एक सर्फ (0) और एक सर्फ (1) पर नैनोस्केल नमूने पर प्रतिबिंब के बाद प्रकाश ध्रुवीकरण।]]ध्रुवीकृत प्रकाश सुसंगतता पर हाल के एक अध्ययन से क्रॉस पोलराइज़र मोड में मानक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी के लिए विपरीत प्रवर्धन गुणों वाले नए समर्थन - सर्फ - के विकास की ओर अग्रसर होता है।<ref>{{cite journal|author1=Ausserré D |author2=Valignat MP |journal=Nano Letters|year=2006|volume=6|pages=1384–1388|doi=10.1021/nl060353h|pmid=16834416|title=सतह नैनोस्ट्रक्चर की वाइड-फील्ड ऑप्टिकल इमेजिंग|issue=7|bibcode = 2006NanoL...6.1384A }}</ref> एक अपारदर्शी या पारदर्शी सब्सट्रेट पर ऑप्टिकल परतों से बने, ये समर्थन प्रतिबिंब के बाद प्रकाश ध्रुवीकरण को संशोधित नहीं करते हैं, भले ही घटना स्रोत का संख्यात्मक एपर्चर महत्वपूर्ण हो। इस संपत्ति को संशोधित किया जाता है जब एक नमूना एक सर्फ पर मौजूद होता है, तो एक गैर-शून्य प्रकाश घटक का पता लगाया जाता है, जब विश्लेषक नमूना दिखाई दे रहा होता है।

इन समर्थनों के प्रदर्शन का अनुमान नमूने के कंट्रास्ट (C) के मापन से लगाया जाता है: C = (I1-मैं0)/(मैं0+ मैं1) जहां मैं0 और मैं1 नंगे सर्फ और क्रमशः सर्फ पर विश्लेषण किए गए नमूने द्वारा परिलक्षित तीव्रता का प्रतिनिधित्व करते हैं। एक नैनोमीटर-फिल्म की मोटाई के लिए, सर्फ सिलिकॉन वेफर की तुलना में 200 गुना अधिक कंट्रास्ट प्रदर्शित करते हैं।

यह उच्च कंट्रास्ट वृद्धि 0.3 एनएम तक मोटाई वाली फिल्मों के मानक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप के साथ-साथ नैनो-ऑब्जेक्ट्स (2 एनएम व्यास तक) और बिना किसी प्रकार के नमूना लेबलिंग (न तो प्रतिदीप्ति, और न ही रेडियोधर्मी मार्कर) के बिना विज़ुअलाइज़ेशन की अनुमति देती है। . एक सिलिकॉन वेफर पर और एक सर्फ पर Langmuir-Blodgett संरचना | Langmuir-Blodgett फिल्म के क्रॉस पोलराइज़र के बीच ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी में अवलोकन के साथ कंट्रास्ट बढ़ाने का एक उदाहरण इसके बाद दिया गया है।

विज़ुअलाइज़ेशन के अलावा, हाल के घटनाक्रमों ने विश्लेषण किए गए नमूने की मोटाई माप तक पहुँचने की अनुमति दी है। नैनो-चरणों से बने अंशांकन मानक और विश्लेषित नमूने के बीच एक वर्णमिति पत्राचार किया जाता है। दरअसल, ऑप्टिकल हस्तक्षेप के कारण, नमूना के आरजीबी (लाल, हरा, नीला) पैरामीटर और इसकी ऑप्टिकल मोटाई के बीच एक संबंध मौजूद है। यह विश्लेषित नमूनों के 3डी-प्रतिनिधित्व, प्रोफ़ाइल अनुभागों की माप, खुरदरापन और अन्य सामयिक मापों की ओर जाता है।

== प्रायोगिक सेटअप ==
प्रायोगिक सेट-अप सरल है: विशेषता वाले नमूने को पारंपरिक माइक्रोस्कोप स्लाइड के बजाय एक सर्फ पर डिप-कोटिंग, स्पिन-कोटिंग, डिपॉजिट पिपेट, वाष्पीकरण ... जैसी सामान्य जमा तकनीकों द्वारा जमा किया जाता है। इसके बाद सपोर्ट को माइक्रोस्कोप स्टेज पर रखा जाता है।

==मौजूदा उपकरणों के साथ सिनर्जी==
सरफस तकनीक को मौजूदा विश्लेषण उपकरण ([[परमाणु बल माइक्रोस्कोप]] (एएफएम), [[रमन स्पेक्ट्रोस्कोपी]], आदि) में नई कार्यात्मकताओं को जोड़ने के लिए एकीकृत किया जा सकता है, जैसे कि ऑप्टिकल छवि, मोटाई माप, गतिज अध्ययन, और समय बचाने के लिए नमूना पूर्व-स्थानीयकरण के लिए भी और उपभोग्य वस्तुएं (AFM टिप्स, आदि)।

== अनुप्रयोग ==
[[File:Sarfus ExamplesVisu.jpg|thumb|upright=1.8|नैनोस्ट्रक्चर की सरफस छवियां: 1. कोपोलिमर फिल्म माइक्रोस्ट्रक्चर (73 एनएम), 2. कार्बन नैनोट्यूब बंडल, 3. जलीय घोल में लिपिड वेसिकल्स, 4. गोल्ड डॉट्स की नैनोपैटर्निंग (50 एनएम)3).]]

=== जीवन विज्ञान ===
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=== पतली फिल्म और सतह के उपचार ===
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* [[लिक्विड क्रिस्टल]]
*प्लाज्मा उपचार
* स्व-इकट्ठे मोनोलयर्स

=== नैनो सामग्री ===
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* डीएनए अणु

== लाभ ==
नैनोचरित्रकरण की सामान्य तकनीकों की तुलना में ऑप्टिकल माइक्रोस्कोपी के कई फायदे हैं। यह उपयोग में आसान है और सीधे नमूने की कल्पना करता है। वास्तविक समय में विश्लेषण गतिज अध्ययन (वास्तविक समय क्रिस्टलीकरण, डीवेटिंग, आदि) की अनुमति देता है। आवर्धन का व्यापक विकल्प (2.5 से 100x) कई मिमी से देखने के क्षेत्र की अनुमति देता है2 से कुछ दस µm2</उप>। अवलोकन नियंत्रित वातावरण और तापमान में किया जा सकता है।

==संदर्भ==
{{reflist|30em}}

{{Optical microscopy}}
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